什么是功能測(cè)試在生活中的應(yīng)用
什么是功能測(cè)試在生活中的應(yīng)用
功能測(cè)試就是對(duì)產(chǎn)品的各功能進(jìn)行驗(yàn)證，根據(jù)功能測(cè)試用例，逐項(xiàng)測(cè)試，檢查產(chǎn)品是否達(dá)到用戶要求的功能。那么你對(duì)功能測(cè)試了解多少呢?以下是由學(xué)習(xí)啦小編整理關(guān)于什么是功能測(cè)試的內(nèi)容，希望大家喜歡!
什么是功能測(cè)試
Functional testing(功能測(cè)試)，也稱為behavioral testing(行為測(cè)試)，根據(jù)產(chǎn)品特性、操作描述和用戶方案，測(cè)試一個(gè)產(chǎn)品的特性和可操作行為以確定它們滿足設(shè)計(jì)需求。本地化軟件的功能測(cè)試，用于驗(yàn)證應(yīng)用程序或網(wǎng)站對(duì)目標(biāo)用戶能正確工作。使用適當(dāng)?shù)钠脚_(tái)、瀏覽器和測(cè)試腳本，以保證目標(biāo)用戶的體驗(yàn)將足夠好，就像應(yīng)用程序是專門為該市場(chǎng)開發(fā)的一樣。功能測(cè)試是為了確保程序以期望的方式運(yùn)行而按功能要求對(duì)軟件進(jìn)行的測(cè)試，通過對(duì)一個(gè)系統(tǒng)的所有的特性和功能都進(jìn)行測(cè)試確保符合需求和規(guī)范。
功能測(cè)試也叫黑盒測(cè)試或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試，只需考慮需要測(cè)試的各個(gè)功能，不需要考慮整個(gè)軟件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及代碼.一般從軟件產(chǎn)品的界面、架構(gòu)出發(fā)，按照需求編寫出來的測(cè)試用例，輸入數(shù)據(jù)在預(yù)期結(jié)果和實(shí)際結(jié)果之間進(jìn)行評(píng)測(cè)，進(jìn)而提出更加使產(chǎn)品達(dá)到用戶使用的要求。
功能測(cè)試的應(yīng)用
印刷電路板，又稱印制電路板，印刷線路板，常使用英文縮寫PCB(Printed circuit board)，是重要的電子部件，是電子元件的支撐體，是電子元器件線路連接的提供者。由于它是采用電子印刷技術(shù)制作的，故被稱為“印刷”電路板。
在印制電路板出現(xiàn)之前，電子元件之間的互連都是依靠電線直接連接而組成完整的線路。電路面包板只是作為有效的實(shí)驗(yàn)工具而存在，而印刷電路板在電子工業(yè)中已經(jīng)成了占據(jù)了絕對(duì)統(tǒng)治的地位。
20世紀(jì)初，人們?yōu)榱撕?jiǎn)化電子機(jī)器的制作，減少電子零件間的配線，降低制作成本等優(yōu)點(diǎn)，于是開始鉆研以印刷的方式取代配線的方法。三十年間，不斷有工程師提出在絕緣的基板上加以金屬導(dǎo)體作配線。而最成功的是1925年，美國(guó)的Charles Ducas 在絕緣的基板上印刷出線路圖案，再以電鍍的方式，成功建立導(dǎo)體作配線。
直至1936年，奧地利人保羅·愛斯勒(Paul Eisler)在英國(guó)發(fā)表了箔膜技術(shù)，他在一個(gè)收音機(jī)裝置內(nèi)采用了印刷電路板;而在日本，宮本喜之助以噴附配線法“メタリコン法吹著配線方法(特許119384號(hào))”成功申請(qǐng)專利。而兩者中Paul Eisler 的方法與現(xiàn)今的印刷電路板最為相似，這類做法稱為減去法，是把不需要的金屬除去;而Charles Ducas、宮本喜之助的做法是只加上所需的配線，稱為加成法。雖然如此，但因?yàn)楫?dāng)時(shí)的電子零件發(fā)熱量大，兩者的基板也難以配合使用，以致未有正式的實(shí)用作，不過也使印刷電路技術(shù)更進(jìn)一步。
黑盒測(cè)試的概述
黑盒測(cè)試(Black-box Testing，又稱為功能測(cè)試或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試)是把測(cè)試對(duì)象看作一個(gè)黑盒子。利用黑盒測(cè)試法進(jìn)行動(dòng)態(tài)測(cè)試時(shí)，需要測(cè)試軟件產(chǎn)品的功能，不需測(cè)試軟件產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和處理過程。
比如黑盒技術(shù)設(shè)計(jì)測(cè)試用例的方法有：等價(jià)類劃分、邊界值分析、錯(cuò)誤推測(cè)、因果圖和綜合策略。
黑盒測(cè)試注重于測(cè)試軟件的功能性需求，也即黑盒測(cè)試使軟件工程師派生出執(zhí)行程序所有功能需求的輸入條件。黑盒測(cè)試并不是白盒測(cè)試的替代品，而是用于輔助白盒測(cè)試發(fā)現(xiàn)其他類型的錯(cuò)誤。
黑盒測(cè)試試圖發(fā)現(xiàn)以下類型的錯(cuò)誤：
(1)功能錯(cuò)誤或遺漏
(2)界面錯(cuò)誤
(3)數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)或外部數(shù)據(jù)庫(kù)訪問錯(cuò)誤
(4)性能錯(cuò)誤
(5)初始化和終止錯(cuò)誤
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1.軟件測(cè)試實(shí)訓(xùn)心得體會(huì)